Väljaanne: 2025 IEEE European Test Symposium (ETS)
Autorid: Jenihhin, M.; Raik, J.; Jutman, A.; Cherezova, N.; Ubar, R.; Miclea, L.; Enyedi, S.; Stefan, I.; Stan, O.; Corches, C.; Peng, Z.; Eles, P.; Drechsler, R.; Eggersgluss, S.; Fey, G.; Glowatz, A.; Tille, D.; Gielen, G.; Coyette, A.; Dobbelaere, W.; Vanhooren, R.; Chuang, P. -Y.; Marinissen, E. J.; Di Natale, G.; Barragan, M.; Maistri, P.; Mir, S.; Vatajelu, E. -I.; Bernardi, P.; Di Carlo, S.; Prinetto, P.; Reorda, M. Sonza; Violante, M.; Stratigopoulos, H. -G.; Michael, M. K.; Neophytou, S.; Hadjitheophanous, S.; Christou, K.; Skitsas, M.; Bosiol, A.; Deveautour, B.; Girard, P.; Traiolan, M.; Virazel, A.; dos Santos, E. Fernandes; Kritikakou, A.; Casagranda, G.; Vallero, M.; Vella, F.; Rech, P.; Poehls, L. M. Bolzani; Krstic, M.; Andjelkovic, M.; Vargas, F.; Tshagharyan, G.; Harutyunyan, G.; Vardanian, V.; Shoukourian, S.; Zorian, Y.; Dworak, J.; Nepal, K.; Manikas, T.; Taoui, M.; Fieback, M.; Gebregiorgis, A.; Bishnoi, R.; Hamdioui, S.; Chatterjee, A.; Saha, A.; Komarraju, S.; Ma, K.; Amarnath, C.; Tahoori, M.; Mayahinia, M.; Rajabalipanah, M.; Basharkhah, K.; Nosrati, N.; Jahanpeima, Z.; Navabi, Z.; Wunderlich, H. -J.; Hellebrand, S.
Aasta: 2025